Metallic-CN-Removal-Tolerant High-Yield Six-CN-MOSFET SRAM Cell for Carbon-Based Embedded Memory
发布时间:2021-06-21
发表刊物:IEEE Transactions on Electron Devices
ISSN号:0018-9383
是否译文:否
发表时间:2018-03-01
论文类型:期刊论文