马艺馨

副教授

所在单位:电子信息与电气工程学院

学科:测试计量技术及仪器(080402)

职称:副教授

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The Importance of FEM model for Linearized EIT Image Reconstruction

发布时间:2022-11-07

发表刊物:IST 2021 - IEEE International Conference on Imaging Systems and Techniques, Proceedings

ISSN号:9781728173719

是否译文:

发表时间:2021-01-01

论文类型:会议论文

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