课程介绍：本课程将教授学生集成电路相关的测试方法和技术，将从理论和实践角度去阐述芯片测试相关技术。<br />
本课程将培养学生对测试的兴趣。首先学生将接触集成电路测试的基本原理，其次通过实践他们将会对测试过程有更深层次的了解，最后如果学生希望以后进一步在测试领域进行学习和研究，那本课程也会为其指引方向。<br />
本课程内容主要包含以下三方面：<br />
1. 测试方法，主要包括：故障建模、逻辑和故障仿真、可测性度量、组合和时序电路的自动测试向量生成等。<br />
2. 自动测试设备介绍和测试流程的实践。其中包括连接测试、DC参数测试、功能测试和AC参数测试等测试项目。<br />
3. 可测性设计概念以及扫描、内建自测、边界扫描等实用的可测性设计方法。<br />
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开课学年：2013-2014

开课学期：春学期

课程号：2013-2014-2-MR319-355348

学分：3.0

课程类型：本科生课程

是否精品课程：否

选课人数：40

课时：51.0