上海交大研究生院主页平台管理系统徐济进--中文主页-- First principles calculation of the effects of solute atom on electromigration resistance of Al interconnects

徐济进

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First principles calculation of the effects of solute atom on electromigration resistance of Al interconnects

发布时间：2020-06-12

发表刊物： Journal of Physics D: Applied Physics

ISSN号：0022-3727

是否译文：否

发表时间：2009-05-01

论文类型：期刊论文

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