上海交大研究生院主页平台管理系统闫浩--中文主页-- Impact of charge-coupled device size on axial measurement error in digital holographic system

闫浩

副研究员

所在单位：电子信息与电气工程学院

学科：通信与信息系统(081001)光学工程测试计量技术及仪器(080402)

职称：副研究员

电子邮箱：yan_hao@sjtu.edu.cn

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Impact of charge-coupled device size on axial measurement error in digital holographic system

发布时间：2020-06-12

发表刊物：OPTICS LETTERS

ISSN号：0146-9592

是否译文：否

发表时间：2013-04-01

论文类型：期刊论文

上一条：Influence of Space Variant Effect on Axial Error in Digital Holography

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