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Electro-Thermal-Stress Analysis of AlGaN/GaN HEMTs Breakdown under Intentional EMI

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发表刊物：2016 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology (RFIT 2016)
ISSN号：978-1-5090-1235-0/16
是否译文：否
发表时间：2016-08-01
论文类型：会议论文
发表时间：2016-08-01

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